有关 X 射线分析仪的其他信息

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能量色散型和波长色散型的特点

能量色散和波长色散检测方法各有其特点，必须根据应用适当选择。

1.能量色散型能量
色散型不需要光谱学，半导体探测器可以直接分析荧光X射线的波长，因此可以做得更小。此外，由于无需光谱分析即可同时进行多种元素分析，因此可在短时间内完成测量。由于无论样品的形状和凹凸如何都可以进行测量，因此有时与电子显微镜结合使用。

另一方面，由于所得到的光谱的峰有时重叠，所以存在分辨率容易降低、难以检测测定对象物中微量含有的元素的缺点。

2. 波长色散
型 在波长色散型中，荧光X射线被分析晶体分离并由检测器测量。由于光谱是按波长划分的，因此很容易分离相邻的峰，并且往往具有高灵敏度和高分辨率。

另一方面，由于其复杂的光谱系统，该设备本身往往较大且昂贵。另外，由于在改变衍射角的同时进行测量，因此测量时间比能量色散型长，并且样品表面必须光滑。