表面、薄膜分析_产品中心_HORIBA堀場株式会社主要产品：HORIBA过程分析、HORIBA光泽度计、HORIBA粒子分析、HORIBA元素分析、HORIBA分光分析、HORIBA荧光X射线分析、HORIBA荧光寿命测量、HORIBA烟气分析系统、HORIBA水处理及环境、HORIBA光学组件产品、HORIBA PH计、HORIBA水质分析计、HORIBA表面薄膜分析、HORIBA大气污染成分分析、HORIBA环境放射线监测仪等。中国总经销：深圳市京都玉崎电子有限公司！

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表面、薄膜分析

型号：GD-Profiler2
名称：马库斯高频辉光放电光发射表面分析仪GD-Profiler2
型号：MP-32S
名称：阴极发光测量系统MP-32S
型号：MP-Micro
名称：阴极发光测量系统MP-Micro
型号：EMAXWAVE
名称：波长色散X射线分析仪EMAXWAVE
型号：EMAXEvolution Nordlys
名称：高速、高灵敏度的电子背散射衍射探测器EMAXEvolution Nordlys
型号：EMAXEvolution x-act
名称：SDD探测器EMAXEvolution x-act
型号：EMAXEvolution X-Max
名称：大口径SDD探测器EMAXEvolution X-Max
型号：EX-470
名称：能量分散型X射线分析仪EX-470
型号：EX-370
名称：能量分散型X射线分析仪EX-370
型号：EX-270
名称：能量分散型X射线分析仪EX-270